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涂鍍層測厚儀的原理及應用

        涂層測厚儀又稱涂層測厚儀。其原理如下：
        磁性測厚原理：當探頭與涂層接觸時，霍爾發現電位差UH與電流強度IH成正比，探頭與磁性金屬基體形成閉合磁路。由于非磁性覆蓋層的存在，磁路的磁阻發生變化，與磁感應強度B成正比。當探頭與覆蓋層接觸時，金屬上會產生渦流基板，與厚度 d 成反比。覆蓋層的厚度可以通過測量其變化來計算。
        渦流測厚原理：利用高頻交流電在線圈中產生電磁場，采用磁性測厚法無損測量磁性金屬上非磁性涂層的厚度，而現在又出現了一種新型的涂層測厚儀，那就是涂層測厚儀，它采用了最新的磁感應技術。又稱霍爾效應，是霍爾于1879年發現的。渦流法可以無損地測量磁性金屬基板上非導電層的厚度。通過研究霍爾電壓與工作電流的關系，測量電磁鐵的磁導率，研究霍爾電壓與磁場的關系，涂層測厚儀又稱涂層測厚儀、薄膜測厚儀、和一個涂層量規。采用磁測厚和渦流測厚原理。
        涂層測厚儀按測量原理一般有以下五種方法：
         1、磁性測厚法：適用于導磁材料上非磁性層的厚度測量。導磁材料一般為：鋼、銀、鎳。該方法測量精度高
        2、渦流測厚法：適用于導電金屬上非導電層的厚度測量。
         3、超聲波測厚法：目前國內還沒有采用這種方法測量鍍層的厚度。國外一些廠家有這樣的儀器，適用于多層鍍層厚度的測量或以上兩種方法都無法測量。場合。但一般價格昂貴，如200超聲波涂層測厚儀專用于測量非金屬基材上的涂層。
         4、電解測厚法：此法不同于以上三種方法。不屬于無損檢測，需要破壞鍍層。一般準確率不高。它比其他類型的測量更麻煩。
         5、輻射測厚儀：這種儀器很貴（一般在10萬人民幣以上），適用于在一些特殊的場合。